先進材料表徵技術：伊斯坦布爾技術大學的TESCAN

事情變得越來越個人化 - 我們很高興能參加一個 關於使用 SEM、FIB-SEM、STEM 和 MicroCT 進行先進材料表徵技術的實踐研討會。該研討會專為推動材料科學界限的研究人員和科學家而設計，將於 2024 年 5 月 29 日星期三在伊斯坦布爾技術大學舉行。

該計劃擁有一系列傑出的演講者，如 Tomáš Šamořil 博士 和 Daniel Němeček 博士，他們將深入探討相關 FIB-SEM 表徵和使用先進顯微鏡進行納米級表徵等主題。

以下是該計劃的一瞥：

• 09：00-09：30： 歡迎致辭
• 09：30-10：30： 用於推進材料科學研究的相關 FIB-SEM 表征 - Tomáš Šamořil 博士
• 10：30-11：00： 茶歇
• 11：00-12：00： 使用現代多模態分析STEM顯微鏡將材料表徵推向納米級 - Daniel Němeček博士
• 12：00-13：00： 午休
• 13：00-14：00： 用於電池開發和材料科學中結構和成分分析的高級 3D 和 4D 成像 - Wesley De Boever 博士
• 14：00-14：30： 茶歇
• 14：30- 15：30： 使用集成 TOF-SIMS 的 FIB-SEM 對鋰離子電池材料進行表面和次表面表徵 - Tomáš Šamořil 博士
• 15：30-16：30： 問題和答案

想知道更多嗎？
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該研討會有望成為研究人員深入瞭解突破性材料表徵技術的寶貴平臺。我們期待促進該領域的討論和合作！