2月26日至3月2日，MC2023彙集了材料科學、生命科學、儀器儀錶和方法等各個領域的領先專家和新興研究人員。該活動提供了一個討論當前趨勢和探索新發現的平臺。
TESCAN上台發表了題為「電子顯微鏡和聚焦離子束表徵方法在電化學材料及其介面評估中的作用」的60分鐘綜合演講。本次演講強調了TESCAN在改進電池材料分析方面的貢獻。
此外，我們還展示了兩個展位，重點展示了我們的AMBER X等離子FIB-SEM，這是分析電池技術的關鍵工具。AMBER X配備了集成的ToF-SIMS解決方案，展示了TESCAN在該領域取得的進步。
我們衷心感謝所有在活動期間訪問並與我們互動的人，探索我們的電池發展解決方案。
如需更深入地瞭解我們的AMBER X等離子FIB-SEM和其他TESCAN解決方案，我們邀請您訪問我們的網站。請繼續關注TESCAN即將舉行的活動和進步的更多更新！