網路研討會公告：TESCAN 的 Micro-CT 在電池研究中的應用 – 2024 年 2 月 8 日

利用 Micro-CT 進行電池開發 

隨著全球對可靠、安全電池的需求不斷增長，Micro-CT 成為電池研究、開發、品質控制和故障分析的關鍵工具。  

2024 年 2 月 8 日加入我們，參加一個富有洞察力的在線會議，探討 TESCAN 微 CT 解決方案的各個方面，以增強電池開發和 QC 流程。

我們很高興邀請到TESCAN集團Micro-CT產品銷售負責人Wesley De Boever博士。他將主持關於“使用TESCAN顯微CT解決方案增強電池研究：電池單元及其元件的無損、高解析度和時間分辨3D/4D多尺度分析”的討論。 

日期和時間： 2024 年 2 月 8 日，會議時間為上午 9：00 和下午 5：00

期待什麼：  

• 創新的無損研究方法： 瞭解 micro-CT 在電池研發中的影響，提供從微小顆粒到整個模組的詳細、非侵入性分析。 
• 不同尺度的分析： 揭示顯微CT在提供從微觀到宏觀尺度的全面見解方面的能力，這對於瞭解從電極到完整電池的電池元件至關重要。 
• 發現和分析缺陷： 瞭解顯微 CT 在檢測新舊電池結構缺陷方面的關鍵作用，這是推進電池設計和安全性的關鍵。 
• 即時電池行為監控： 深入研究使用micro-CT觀察電池在各種條件下（包括高溫暴露）的即時性能。  
• 電池創新的廣泛應用：
  見證micro-CT在電池開發階段的廣泛應用，從最初的研究到質量保證。

專家訪談：Wesley De Boever 博士 

在TESCAN集團，De Boever博士是微型CT技術在電池研究中應用的領軍人物。他的專業知識對當今電池技術領域的挑戰和機遇有著深刻的理解。 

加入我們這個富有啟發性的會議，與正在塑造電池技術未來的專業人士和愛好者建立聯繫。  

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