隨著半導體行業朝著集成度、密度和小型化方面不斷邁進的壯舉，保持領先地位是必須的。在日曆上標記 2024 年 3 月 5 日，因為我們邀請您參加新的網路研討會，該網路研討會將改變您進行半導體樣品分析的方式。
網路研討會標題：「使用TESCAN SOLARIS X提高半導體深橫截面、無Ga+TEM樣品和分層的通量和品質」。
日期和時間：2024 年 3 月 5 日上午 9 點至下午 5 點