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- 技術深入探討： 瞭解有關 TESCAN SOLARIS X 的所有資訊，該系統以其快速、大面積切片和樣品製備的能力而著稱，而不會受到 Ga+ 離子暴露的不利影響。
- 實際演示： 體驗現場演示，展示TESCAN SOLARIS X在處理各種複雜樣品方面的熟練程度，從OLED顯示元件到14奈米FinFET CPU材料等。
為什麼你應該加入：
從半導體分析的最新進展到提高通量和品質的正確工具的演示，參與者將獲得克服半導體樣品分析挑戰的寶貴見解。
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