加入我們即將舉行的網路研討會，該網路研討會有望為半導體器件分析帶來新的見解。本次會議由TESCAN集團和Imina Technologies聯合舉辦，將深入探討先進半導體器件的自動化大面積等離子體FIB脫層和原位納米探測的創新方法。
網路研討會標題： “最新半導體器件的自動大面積等離子體FIB脫層和原位納米探測”
日期及時間：2024 年 6 月 12 日上午 9 點和下午 5 點 CEST
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