TESCAN很高興地宣布，我們將參加7月29日至8月1日在美國俄亥俄州克利夫蘭舉行的2024年顯微鏡與顯微分析（M&M）會議。
這一備受推崇的活動是顯微鏡和顯微分析專家的重要聚會，我們渴望向科學界展示我們的最新進展和貢獻。今年，我們特別高興地推出TESCAN AMBER 2，這是我們AMBER系列備受期待的升級版。
體驗顯微鏡的未來
歡迎蒞臨我們的 521 號展位，觀看我們的演示系統，包括 TESCAN AMBER 2、TESCAN CLARA、TESCAN TENSOR 和 TESCAN micro-CT。
我們的專家團隊將提供現場演示，回答您的問題，並討論我們的創新解決方案如何增強您的研發工作流程。
TESCAN AMBER 2正式發佈
我們很高興地宣佈在 M&M 2024 上正式推出 TESCAN AMBER 2。發佈會將於 7 月 29 日在我們的展位（521 號）舉行。
這是您與這款先進的 FIB-SEM 系統的開發人員會面並探索其功能的機會。AMBER 2 為全面的樣品製備和表徵提供了卓越的速度、精度和多功能性。
了解我們的最新工具：TESCAN AURA Gentle Ion Beam ™ 和 TEM AutoPrep Pro™
除了AMBER 2，我們還推出了兩款旨在增強TEM樣品製備的新工具：
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TESCAN AURA 溫和離子束™：該系統最大限度地減少了 TEM 樣品製備中鎵 FIB 誘導的損傷，確保了最小的非晶化損傷並保留了樣品的晶體結構。
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TESCAN TEM AutoPrep Pro™：該軟體可自動化並優化整個 TEM 樣品製備過程，通過在無人值守的夜間運行中執行銑削、取出、修剪和拋光等任務來提高生產率。
參加我們的科學演講
我們的團隊將在會議期間展示幾項科學貢獻。請務必參加這些會議，以獲得新的見解並瞭解顯微鏡和微量分析的最新進展：
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礦物的光譜顯微CT成像，檢索原子資訊和密度圖。
日期和時間：2024 年 7 月 29 日星期一，下午 3：00 – 5：00
地點：展廳海報板7
主講人：Wesley De Boever博士
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一種新型完全集成的可伸縮4D STEM探測器，用於使用基於Timepix3的圖元化探測器掃描電子顯微鏡
日期和時間：2024 年 7 月 29 日星期一，下午 3：00 – 5：00
地點：展廳海報板？
主講人：拉斯蒂斯拉夫·莫圖茲
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電池電解質在化成和加熱過程中的行為：使用高解析度和動態微 CT 的新見解
日期和時間：2024 年 7 月 30 日星期二，上午 11：45 – 中午 12：00
地點：亨廷頓會議中心 19 室
主講人：Ksenija Nikolic 博士
安排與我們的客戶服務團隊會面
我們的客戶服務團隊將在整個會議期間隨時待命，討論您的特定需求以及TESCAN的解決方案如何支援您的研發工作。
安排與我們的團隊會面，以充分利用您對 M&M 2024 的訪問。
歡迎蒞臨我們的 521 號展位
我們邀請您參觀我們的展位，預訂演示時段，並瞭解有關TESCAN AMBER 2和我們新工具的所有資訊。不要錯過這個機會，與我們的專家交流，親眼目睹TESCAN如何推動顯微鏡和顯微分析領域的發展。
有關TESCAN AMBER 2和我們新工具的更多資訊，請訪問我們的網站： https://info.tescan.com/matsci-fib-sem/tescan-amber-2