以 2D 和 3D 方式了解電池材料的內部結構和化學成分
TESCAN AMBER X UHR 等離子 FIB-SEM 提供對電池材料內部結構和化學成分的 2D 和 3D 訪問，推動材料研究，從而顯著提高電池性能。使用最先進的 BrightBeam™ SEM 色譜柱體驗高解析度觀察，並使用市場領先的最高通量 Xe 等離子體 FIB 技術加快地下分析。
憑藉強大的電子和元素檢測功能，無論樣品的特性如何，都能輕鬆分析和可視化形貌、材料和化學成分。在單個系統中，受益於全面的 2D 和 3D 分析功能，可對從毫米級到納米級的電池材料進行多模態表徵。
TESCAN AMBER X 如何為您的研究賦能
全面
體積表徵
通過大體積分析（EDS/EBSD/ToF-SIMS）斷層掃描獲得多模態見解。
輕元素檢測
探索最輕元素的分佈，包括鋰。
大面積FIB加工
通過表徵毫米級橫截面來獲得全面的數據。
高水準
自動化
最大限度地利用儀器時間進行高效分析。
容易
至使用
通過使用者友好的控件簡化您的研究過程。
靈敏
樣品保護
保護含有鋰的樣品免受空氣或濕氣的影響。
主要優勢
TESCAN AMBER X 的
- 通過深入瞭解固體電解質介面 （SEI） 特性來延長電池壽命和（Dis）充電率：
使用ToF-SIMS探索SEI的分佈、均勻性、厚度和化學成分，從而實現高表面靈敏度並檢測最輕的元素，包括鋰。 - 確保最高的電池元件品質：
分析電極材料的化學和結構均勻性。使用 SEM、EDS 和 ToF-SIMS 數據收集，通過 3D 斷層掃描研究顆粒、粘合劑、炭黑和孔隙率的體積分布。
- 通過對電極和陰極顆粒降解機理的高解析度研究，防止電池容量衰減：
利用 SEM 和 STEM 成像、ToF-SIMS 和拉曼光譜來了解電極顆粒降解。 - 通過識別電極中的化學污染物來確保目標電池壽命：
使用 SEM、EDS 和/或 ToF-SIMS 技術進行 2D 或 3D 材料分析。 - 通過確保惰性氣體（無氧氣和水分）環境，優化和精確表徵循環電池材料和含鋰電池材料的化學成分：
通過惰性氣體傳輸保護敏感樣品免受空氣或濕氣的影響。
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