品質控制和深入的電池分析 |TESCAN CLARA系列

正在尋找輕鬆高效地最大限度地發揮納米級電池研究潛力的方法？瞭解TESCAN CLARA，UHR SEM使用我們的BrightBeam™ SEM柱在低光束能量下確保無與倫比的成像品質，無靜電相互作用和光學像差。

告別樣品偏置和磁場暴露，得益於我們先進的管子設計。使用雙物鏡配置和中間透鏡輕鬆導航樣品，它們共同提供寬廣的視野。利用最廣泛的檢測器進行形貌和成分對比，包括能量過濾功能，從電池材料中獲得最大的形貌和成分見解。

下載 TESCAN CLARA 宣傳冊

TESCAN CLARA在電池研究中的主要特點

高水準
自動化

掩模組 2

最大限度地利用儀器時間進行高效分析。

超高
解析度

掩碼組 3

以非凡的清晰度捕捉最細微的細節。

大
室

掩模組 6

輕鬆適應各種樣品量。

高樣本
輸送量

掩模組 5

在不影響數據質量的情況下節省時間。

容易
至使用

掩碼組 4

通過使用者友好的控件簡化您的研究過程。

電池正極用LiCoO2顆粒的SEM細節

LiCoO2 用於鋰離子電池正極的高解析度 SEM

NMC顆粒形狀和尺寸的SEM研究

電池隔膜孔隙率的高解析度SEM分析

鋰離子陰極的SEM顯示顆粒和粘合劑

電池電極富鋰鎳顆粒表面的SEM

體驗TESCAN CLARA的優勢

TESCAN CLARA UHR SEM由強大的多探測器系統提供支援，該系統可根據角度和能量選擇性地收集電子，將您的研究潛力提升到新的高度。

支援品質控制：
使用 SEM 成像表徵電極顆粒特性。
研究電極顆粒降解：
利用具有 STEM 功能的高解析度 SEM 成像，並與拉曼光譜的化學圖譜相關聯。
識別化學污染物：
使用 EDS 檢測和分析電極污染物。

分析孔隙度和互連性：
使用 SE/BSE 檢測來深入了解電極和/或隔膜，以實現形貌和材料對比。
評估電極開裂： 對電池單元橫截面進行詳細或大規模的 SEM 成像。
保護對空氣敏感的樣品： 使用惰性氣體傳輸將樣品從空氣或濕氣中保存。

在本次網路研討會中，我們將展示 TESCAN CLARA UHR SEM 如何解決納米尺度的主要表徵挑戰。我們演示了如何使用TESCAN CLARA來解決材料研究和電池研究的不同案例。此外，我們還總結了如何使用 TESCAN CLARA UHR SEM 的新穎功能讓任何人快速輕鬆地提供所需的數據。

在此處觀看我們的 CLARA 簡介網路研討會

CLARA UHR SEM上的TESCAN網路研討會內容渲染

TESCAN CLARA UHR SEM 前檢視

探索TESCAN CLARA的性能

NiCoMn粉末的高解析度2 keV SEM圖像

FIB製備的石墨陽極橫截面

瞭解有關支援創新電池設計和開發的應用的更多資訊

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我們的全球團隊可以回答有關TESCAN的問題，以及電池或其他主題的解決方案。