利用3D ToF-SIMS斷層掃描進行電池表徵
使用全自動 3D FIB-SEM 斷層掃描和整合的 ToF-SIMS 分析，揭示電池元件的局部形態和化學狀態之間的複雜關係。與傳統的ToF-SIMS深度剖析不同，3D ToF-SIMS層析成像可提供精確的體積化學數據，克服了電池材料成分和形貌異質性帶來的限制。
推進電池表徵，深入研究電極內顆粒、粘合劑、孔隙率、鋰和其他元素的分佈。
通過大規模橫截面提升電池表徵和掌握地下分析
通過全面的亞表面分析和表徵，增強對電池材料的統計評估，即使是毫米級的分析。利用TESCAN尖端的Xe等離子FIB技術，True X-Sectioning和Rocking Stage，通過最大限度地減少橫截面電池電極中經常觀察到的不均勻遮蔽效應，加快橫截面準備並提高品質。
使用一體化顯微鏡系統為電池材料定製分析工作流程
通過在一台顯微鏡儀器中關聯各種分析技術，全面瞭解電池過程和成分。通過將超高解析度 SEM 觀察、物相、元素和化學狀態分析與集成的 EBSD、EDS、ToF-SIMS 和拉曼光譜相結合，為電池材料的表面和亞表面 2D/3D 表徵創建自定義分析工作流程。此外，您可以使用 FIB 技術存取電池樣品上感興趣的特定地下區域。
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保護您的電池樣品以進行 FIB 處理和表徵
為確保鋰基電池樣品的安全，請使用惰性氣體傳輸系統。這將防止在手套箱和顯微鏡真空室之間轉移時暴露在空氣和濕氣中。通過應用低溫條件，您還可以減少對離子束敏感樣品的損壞，並最大限度地減少 FIB 銑削過程中的材料再沉積。
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