半導體分析領域的開創性進展
透過我們的網路研討會獲得對半導體技術的新見解。了解TESCAN SOLARIS X的進階功能，這些功能旨在改善您的分析工作流程。
本次會議涵蓋了TESCAN SOLARIS X的複雜功能，強調其能夠進行快速、大面積切片和樣品製備，且不會受到Ga+ 離子暴露的負面影響。介紹了等離子體 FIB-SEM 技術的詳細應用，重點是半導體材料及其性能的檢查和增強。
關鍵主題包括高解析度端點技術的集成，這對於理解材料行為和支援更高效、高性能半導體技術的開發至關重要。
認識主人
盧卡斯·赫拉迪克，TESCAN 集團產品行銷經理，是半導體技術和分析的專家，為半導體研發帶來了豐富的知識。
觀看錄音，獲得克服半導體樣品分析挑戰的寶貴見解，並利用 TESCAN SOLARIS X 提高您的技術知識。