AI/ML 增強型技術：提高故障分析的效率和準確性
FA 4.0旨在通過開發先進的設備和方法，利用人工智慧，機器學習和自動化的能力來改變故障分析領域。該專案的主要創新包括：
- 用於故障分析的先進裝置和設備
- 結合 AI/ML 驅動的圖像和信號分析演算法，以提高工具性能
- 通過將設備與新穎的硬體介面互連來簡化複雜的工作流程
- 集中診斷數據收集和關聯以提高效率
- 詳細的缺陷模式檢測和編目，結合計量和電氣測試數據
來自德國、法國和捷克共和國的國際財團，包括英飛淩、意法半導體和博世等行業領導者，與中小企業、中型企業和知名研究機構合作，共同實現了該專案。
使用 AI/ML 驅動的解決方案增強故障分析
FA 4.0 專注於最大限度地發揮 AI/ML 解決方案的潛力，以轉換故障分析。通過使用標準化的硬體和軟體，該專案旨在集成工具和FA資料庫，從而簡化工作流程。這種方法有助於開發先進的 AI/ML 解決方案，提高 FA 品質和生產力，並使故障分析工程師能夠更高效地工作。
FA 4.0 正在通過基於信號和圖像的 AI/ML 方法擴展當前的FA測量評估功能。這些先進技術包括 AI/ML 驅動的 SEM 和 FIB 中檢測器原始信號的評估，以及掃描聲學顯微鏡中的聲波和顯微 CT 中的 X 射線信號。這使得下一代FA工具的開發成為可能，促進了基於AI / ML的集成工作流程，從而提高了未來故障分析的生產力和品質。
展望失效分析的未來
到2023年9月，TESCAN和專案合作夥伴的目標是實施一個功能齊全的工作流程，包括：
- PVA TEPLA掃描聲學顯微鏡中的封裝缺陷定位/識別
- 使用3D-Micromac的鐳射微加工工具在共用FA 4.0平臺上進行大批量材料去除，並通過圖像標題傳輸數據
- 使用SOLARIS X進行精細樣品製備和缺陷分析。
總之，TESCAN及其FA 4.0合作夥伴旨在開創故障分析的新階段，其中AI / ML驅動的解決方案和自動化可提高效率，準確性和可靠性。我們努力塑造電子系統的未來，提高歐洲在智慧交通和工業生產領域的地位。
加入我們，我們將繼續這項重新定義故障分析的重大努力！
